Search results for: szumy rts
-
RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices
PublicationPrzedstawiono wyniki pomiarów szumów z zakresu małuch częstotliwości transoptorów typu CNY17. Pomiary wykonano w systemie zaprojektowanym i skonstruowanym przez Autorów. Stwierdzono występowanie szumów RTS w kilku egzemplarzach badanej próby transoptorów. Przeprowadzono analizę szumów RTS, zarówno w dziedzinie czasu, jak i w dziedzinie częstotliwości. Oszacowano wartość częstotliwości, przy której występują szumy wybuchowe, na...
-
Przyrząd wirtualny do wykrywania szumów wybuchowych w przyrządach półprzewodnikowych metodą obrazowania szumów
PublicationW artykule scharakteryzowano właściwości szumów wybuchowych (RTS) w dziedzinie czasu i częstotliwości oraz omówiono stosowane metody identyfikacji szumów RTS. Przedstawiono konstrukcję systemu, do szybkiej identyfikacji szumów wybuchowych, zbudowanego w oparciu o metodę Noise Scattering Pattern (NSP). System składa się z głowicy pomiarowej, zawierającej spolaryzowany badany przyrząd półprzewodnikowy, filtru dolnoprzepustowego,...
-
Identification of Optocoupler Devices with RTS Noise
PublicationThe results of noise measurements in low frequency range for CNY 17 type optocouplers are presented. The research were carried out on devices with different values of Current Transfer Ratio (CTR). The methods for identification of Random Telegraph Signal (RTS) in noise signal of optocouplers were proposed. It was found that the Noise Scattering Pattern method (NSP method) enables to identify RTS noise as non-Gaussian component...
-
Identyfikacja szumów wybuchowych w dziedzinie czasu
PublicationW referacie przedstawiony został system do pomiaru szumów własnych transoptorów. Badane transoptory typu CNY17 składają się z diody LED, fototranzystora i kanału optycznego. System pomiarowy zawiera 3 głowice pomiarowe i dlatego umożliwi pomiar szumów diod LED, fototranzystorów oraz całego elementu, czy transoptora.W referacie przedstawione zostały przykładowe wyniki pomiarów szumów własnych elementów składowych transoptora i transoptora...
-
Piece-wise constant approximation method of identification of RTS noise
PublicationPrzedstawiono nową metodę wydzielania szumów RTS z całkowitych szumów przyrządów półprzewodnikowych. Metoda ta oparta jest na aproksymacji liniowo odcinkowej przebiegu szumowego.Przedstawiono wyniki zastosowania tej metody do wydzielenia dwupoziomowego szumu RTS z szumu przyrządu półprzewodnikowego.
-
A new nethod for RTS noise of semiconductor devices identification
PublicationIn the paper, a new method, called the noise scatterin pattern method (NSP method), for random telegraph signal noise identyfication in the inherent noise of semiconductor devices is described. A block diagram of a noise measurement system based on the NSP method is presented. Examples of patterns of the NSP method are presented.
-
A new methof for identyfication of RTS noise
PublicationIn the paper a new method, called the Noise Scattering Pattern (NSP) method, for RTS noise identyfication in a noise signal is presented. Examples of patterns of the NSP method are included.
-
Automatyczna detekcja liczby poziomów szumów RTS w przyrządach półprzewodnikowych
PublicationW publikacji zaprezentowano dwie metody automatycznej detekcji liczby poziomów szumów RTS w sygnałach szumowych generowanych w przyrządach półprzewodnikowych. Pierwsza z nich wykorzystuje źródło danych, którym jest szum przyrządu zapisany w postaci wektora próbek, natomiast druga działa w oparciu o obrazy uzyskane metodą NSP. W odróżnieniu od metody NSP, prezentowane metody pozwalają na automatyczną identyfikację liczby poziomów...
-
Identyfikacja i przetwarzanie cyfrowe sygnałów szumów RTS występujących w przyrządach półprzewodnikowych.
PublicationPrzedstawiono metody identyfikacji szumów RTS. Zaproponowano graficzną metodę identyfikacji tych szumów oraz sposób wyznaczania średnich czasów trwania inpulsów. Metodę oraz sposób wyznaczania średnich czasów trwania impulsów opisano na przykładzie oceny szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych z zakresu małych częstotliwości.
-
Noise Scattering Patterns Method for Recognition of RTS Noise in Semiconductor Components
PublicationOpisano nową metodę identyfikacji i wizualizacji szumów RTS. Metoda ta oparta na graficznym przedstawieniu przebiegu szumowego jest szczególnie użyteczna do szybkiej selekcji elektronicznych elementów półprzewodnikowych. Przedstawiono także rezultaty filtacji medianowej szumu zawierającego składową RTS. Filtrację medianową zastosowano do poprawienia obrazu szumu uzyskanego w wyniku zastosowania metody NSP.
-
Metoda oceny jakości transoptorów na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości
PublicationWe wstępie rozprawy doktorskiej przedstawiono aktualny stan wiedzy dotyczący zagadnień szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych, w szczególności transoptorów. Następnie przedstawiono ocenę parametrów statycznych transoptorów oraz ocenę współczynnika CTR i hFE. Jeden rozdział poświęcono opisowi stanowiska pomiarowego, które wykorzystano do pomiarów szumów własnych diod transoptorów, fototranzystorów transoptorów oraz transoptorów....