Didn't find any results in this catalog!
But we have some results in other catalogs.Filters
total: 3946
-
Catalog
- Publications 3481 available results
- Journals 17 available results
- Publishing Houses 1 available results
- People 110 available results
- Inventions 74 available results
- Projects 15 available results
- Laboratories 15 available results
- Research Teams 11 available results
- Research Equipment 12 available results
- e-Learning Courses 152 available results
- Events 6 available results
- Open Research Data 52 available results
displaying 1000 best results Help
Search results for: POMIAR STAŁOPRĄDOWY
-
Pomiary Automatyka Robotyka
Journals -
Stałoprądowy model tranzystora typu HSD MAGFET
PublicationZaproponowano stałoprądowy model dwudrenowego tranzystora polowego typu HSD MAGFET, wykorzystywanego jako czujnik pola magnetycznego o dużej czułości na zmiany pola magnetycznego i dużej geometrycznej rozdzielczości pomiarowej. Zaprezentowany model odzwierciedla zjawisko podziału prądu płynącego w kanale tranzystora na prądy drenów i uwzględnia wzajemne oddziaływanie napięć drenów VDS1 i VDS2 na prady drenów ID1 i ID2 poprzez wprowadzenie...
-
Nowa metoda kalibracji woltamperometrii stałoprądowej
PublicationW artykule omówiono no wą metodę kalibracji elektrod woltamperometrycznych opierającą się na wykorzystaniu wyłącznie jednego roztworu wzorcowego. Przedstawiono podstawy teoretyczne zaproponowanej metody oraz wyniki jej weryfikacji laboratoryjnej. Weryfikacja ta potwierdziła możliwość zastosowania zaproponowanej metody do kalibracji elektrod woltamperometrycznych w zakresie stężeń znacznie mniejszych od stężenia jonów depolaryzatora...
-
Stałoprądowy model tranzystora mos dla zakresu przed- i nadprogowego
PublicationZaprezentowano spójny fizycznie, stałoprądowy, jednosekcyjny model opisujący pracę tranzystora MOS zarówno w zakresie przed- i nadprogowym, jak również w zakresie liniowym (triodowym) i nasycenia (pentodowym). Przedstawiono założenia modelu fizycznego w przestrzeni 2-D i jego transformację do modelu quasi-dwuwymiarowego praz zademonstrowano wyniki weryfikacji eksperymentalnej modelu. Model spełnia warunek symetrii Gummel'a
-
Stałoprądowy model tranzystora MOS z kanałem dłuzszym niż 10 nm
PublicationW artykule zaprezentowano spójny fizycznie, stałoprądowy jednosekcyjny model tranzystora MOS i wyniki jego eksperymentalnej weryfikacji dla szerokiego spektrum długości kanałów badanych tranzystorów - od kanałów długich aż do 10-nanometrowych. Przedstawiono założenia modelu fizycznego w przestrzeni 2-D i jego transformację do modelu quasi-dwuwymiarowego. Model spełnia warunek symetrii Gummel'a.
-
Metodyka wykonywania pomiarów oraz ocena niepewności i błędów pomiaru
Publicationelem każdego ćwiczenia w laboratorium studenckim jest zmierzenie pewnych wielkości, a następnie ob- liczenie na podstawie tych wyników pomiarów wartości wielkości badanej. Rezulta- tem końcowym badań jest nie tylko otrzymany wynik liczbowy. Nie mniej ważne jest dokonanie oceny dokład- ności pomiaru oraz opraco- wanie wniosków końcowych. Warto zadać sobie pytanie: czy to, co zostało zmierzone, ma sens i co z tego wynika?...
-
Pomiar rezystancji uziemienia
PublicationOdpowiedź na list czytelnika objaśnia jak postępować w razie koniecznościpomiaru rezystancji uziemienia w terenie uzbrojonym.
-
Stereoskopowy pomiar odległości
PublicationPomiar odległości jest jedną z podstawowych operacji spotykanych w systemach przemysłowych i militarnych. W pracy przedstawiono urządzenie do precyzyjnego pomiaru małych odległości nieprzekraczających 15 m. Urządzenie będzie zainstalowane na platformie mobilnej przewidzianej do pomiaru temperatury linii wysokiego napięcia z użyciem kamery termowizyjnej. Pomiar tą metodą wymaga określenia odległości od obiektu. Wartość odległości...
-
Wyznaczanie miar jakości testu z zastosowaniem probabilistycznego modelu pomiaru
PublicationZaproponowano szybką analityczną metodę wyznaczania miar jakości testu na etapie jego projektowania. Metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Podano przykład wyznaczenia straty uzysku spowodowanej niepewnością progu komparatora w układzie testującym wyrób elektroniczny.
-
Zastosowanie probabilistycznego modelu pomiaru do wyznaczania miar jakości testu
PublicationZaproponowano dwie szybkie metody wyznaczania probabilistycznych miar jakości testu na etapie projektowania, opracowane pod kątem zastosowań w testowaniu analogowych układów elektronicznych. Pierwsza analityczna metoda bazuje na dwóch modelach probabilistycznych - modelu pomiaru oraz modelu odpowiedzi układu testowanego na pobudzenie sygnałem testującym. Druga jest metodą Monte Carlo wydatnie przyspieszoną poprzez zastąpienie procesu...