Search results for: ellipsometric modeling

• JOURNAL OF MOLECULAR MODELING

  Journals

  ISSN: 1610-2940 , eISSN: 0948-5023

• Ellipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring

  Publication

  • R. Bogdanowicz
  • J. Ryl

  - The European Physical Journal-Special Topics - Year 2007

  Full text to download in external service

• A review of applications of ellipsometry in corrosion research

  Publication

  • W. Felisiak

  - Physico-Chemical Mechanics of Materials - Year 2002

  Elipsometria jest to nieinwazyjna i bardzo dokładna technika pomiarowa znajdująca coraz więcej zastosowań w badaniach korozyjnych. Poglądowo przedstawiono aktualne zastosowania pomiarów elipsometrycznych. Przeglądu dokonano pod kątem przydatności elipsometrii do wyznaczania grubości oraz charakterystyki optycznej cienkich warstewek pasywnych pokrywających powierzchnię różnych metali. Opisano zastosowanie pomiarów elipsometrycznych...

• Ellipsometric study of oxide formation on Cu electrode in 0.1 M NaOH

  Publication

  • R. Bogdanowicz
  • J. Ryl
  • K. Darowicki
  • B. Kosmowski
  • K. Darowicki

  - JOURNAL OF SOLID STATE ELECTROCHEMISTRY - Year 2009

  Full text to download in external service

• Ellipsometric study of carbon nitride films deposited by DC-magnetron sputtering

  Publication

  • R. Hippler
  • A. Majumdar
  • R. Bogdanowicz

  - Photonics Letters of Poland - Year 2011

  Full text to download in external service

• Ellipsometric study of carbon nitride films deposited by DC-magnetron sputtering

  Publication

  • A. Majumdar
  • R. Bogdanowicz
  • R. Hippler

  - Photonics Letters of Poland - Year 2011

  We report the optical properties of a carbon nitride (CNx) film as a function of nitrogen concentration (N/C) of the deposited film. As nitrogen concentration is increased (N/C ratio) in a CNx film, the refractive index and band gap also increase. The real and imaginary parts, n and k (refractive index and extinction coefficient) of the complex refraction index of carbon nitride films were determined by spectroscopic ellipsometry...

  Full text available to download

• Journal of Chemical Information and Modeling

  Journals

  ISSN: 1549-9596 , eISSN: 1549-960X

• APPLIED MATHEMATICAL MODELLING

  Journals

  ISSN: 0307-904X , eISSN: 1872-8480

• Elipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring

  Publication

  • R. Bogdanowicz
  • J. Ryl

  - The European Physical Journal-Special Topics - Year 2007

  Wykorzystano technikę elipsometrii monochromatycznej do opisu on-line warstw tlenkowych, elektroosadzanych na miedzi. Elipsometria jest w stanie dostarczyć informacji odnośnie grubości i współczynników załamania światła układów warstwowych, jednakże wymagane w tym celu jest zbudowanie matematycznego modelu odwzorowującego stałe optyczne układu badanego. W powyższej pracy przedyskutowane zostały różne metody dopasowywania modelu...

• Dependence Modeling

  Journals

  ISSN: 2300-2298