Search results for: SAMOTESTOWANIE

• Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach.

  Publication

  • Z. Czaja

  - Year 2003

  Przedstawiono procedurę samotestowania sieci analogowo-cyfrowych mikrosystemów elektronicznych opartych na mikrokontrolerach. Algorytm ten bazuje na metodzie 2D lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych. Składa się z części przedtestowej, w której tworzy się słownik uszkodzeń na komputerze PC i testowej zaimplementowanej w programie mikrokontrolera, która to dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń...

• Podejście samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A

  Publication

  • Z. Czaja

  - Year 2013

  ..

• Samotestowanie toru analogowego ze wzmacniaczem w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrole-rami

  Publication

  • Z. Czaja

  - Measurement Automation Monitoring - Year 2014

  Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego opartego na wzmacniaczu w pełni różnicowym w elektronicznych systemach wbu-dowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpo-wiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie "ujemnym" impulsem prostokątnym na wejściu Vocm na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda...

  Full text to download in external service

• Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych syste-mów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A

  Publication

  • Z. Czaja

  - Measurement Automation Monitoring - Year 2013

  Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikro-kontrolera. Licznik mikrokontrolera...

  Full text to download in external service

• A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems

  Publication

  • Z. Czaja

  - Year 2010

  Przedstawiono metodę samotestowania filtrów wyższych rzędów składających się z łańcucha pierwszego lub drugiego rzędu filtrów (bloków) zaimplementowanych w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami lub procesorami sygnałowymi.Idea metody bazuje na fakcie, iż odpowiedź danego bloku jest traktowana jako sygnał pobudzenia kolejnego bloku. Dzięki temu rozwiązaniu rekonfigurowalny układ...

  Full text to download in external service

• Wojciech Toczek dr hab. inż.

  People