Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach. - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach.

Abstract

Przedstawiono procedurę samotestowania sieci analogowo-cyfrowych mikrosystemów elektronicznych opartych na mikrokontrolerach. Algorytm ten bazuje na metodzie 2D lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych. Składa się z części przedtestowej, w której tworzy się słownik uszkodzeń na komputerze PC i testowej zaimplementowanej w programie mikrokontrolera, która to dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Conference activity
Type:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Title of issue:
MWK´2003. VI Szkoła - Konferencja. Metrologia wspomagana komputerowo.T.2 strony 215 - 220
Language:
Polish
Publication year:
2003
Bibliographic description:
Czaja Z.: Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach. // MWK´2003. VI Szkoła - Konferencja. Metrologia wspomagana komputerowo.T.2/ Warszawa: Wydz. Elektron. WAT, 2003, s.215-220
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 44 times

Recommended for you

Meta Tags