Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach.

Abstrakt

Przedstawiono procedurę samotestowania sieci analogowo-cyfrowych mikrosystemów elektronicznych opartych na mikrokontrolerach. Algorytm ten bazuje na metodzie 2D lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych. Składa się z części przedtestowej, w której tworzy się słownik uszkodzeń na komputerze PC i testowej zaimplementowanej w programie mikrokontrolera, która to dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.

Pełna treść

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
MWK´2003. VI Szkoła - Konferencja. Metrologia wspomagana komputerowo.T.2 strony 215 - 220
Język:
polski
Rok wydania:
2003
Opis bibliograficzny:
Czaja Z.: Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach. // MWK´2003. VI Szkoła - Konferencja. Metrologia wspomagana komputerowo.T.2/ Warszawa: Wydz. Elektron. WAT, 2003, s.215-220
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 12 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi