Bogdan Bartosiński - Publikacje - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Filtry

wszystkich: 22

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Publikacji

Rok 2016
Rok 2014
Rok 2013
  • Using an IEEE1149.1 Test Bus for Fault Diagnosis of Analog Parts of Electronic Embedded Systems
    Publikacja

    The new solution of a BIST called the JTAG BIST for self-testing of analog parts of electronic embedded systems is presented in the paper. The JTAG BIST consists of the BCT8244A and SCANSTA476 integrated circuits of Texas Instruments controlled via the IEEE 1149.1 bus. The BCT8244A is a scan test device with octal buffers, and the SCANSTA476 is a 12-bit ADC with 8 analog input channels. Self-testing approach is based on the fault...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2011
  • Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7

    Przedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

Rok 2010
Rok 2009
  • Fault detection in electronic circuits using test buses
    Publikacja

    - Rok 2009

    A survey of test buses designed for diagnostics of digital and analog electronic circuits is presented: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled complex digital circuits. Each bus is presented with its structure, solution of key elements, particularly boundary registers and a set of test instructions. Diagnosis with the use of the described buses is...

Rok 2008
Rok 2007
Rok 2006
Rok 2005
Rok 2004
Rok 2003
Rok 2002

wyświetlono 1096 razy