Wyszukiwarka
ISSN:
2221-870X
Dyscypliny:
- automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- astronomia (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
Punkty Ministerialne: Pomoc
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| Rok 2025 | 40 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| 2025 | 40 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| 2024 | 40 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| 2023 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023 |
| 2022 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2021 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2020 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2019 | 40 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2018 | 0 | niepunktowane |
| 2017 | 0 | niepunktowane |
| 2016 | 0 | niepunktowane |
| 2015 | 0 | niepunktowane |
| 2014 | 0 | niepunktowane |
| 2013 | 0 | niepunktowane |
Model czasopisma:
Open Access
Punkty CiteScore:
| Rok | Punkty |
|---|---|
| Rok 2023 | 2.5 |
| Rok | Punkty |
|---|---|
| 2023 | 2.5 |
| 2022 | 2 |
| 2021 | 1.5 |
| 2020 | 1.3 |
| 2019 | 1.3 |
| 2018 | 1.3 |
| 2017 | 0.8 |
| 2016 | 0.5 |
| 2015 | 0.3 |
Impact Factor:
brak danych
Prace opublikowane w tym czasopiśmie
Filtry
wszystkich: 1
Katalog Czasopism
Rok 2014
-
Two‐functional μBIST for Testing and Self‐Diagnosis of Analog Circuits in Electronic Embedded Systems
PublikacjaThe paper concerns the testing of analog circuits and blocks in mixed‐signal Electronic Embedded Systems (EESs), using the Built‐in Self‐Test (BIST) technique. An integrated, two‐functional, embedded microtester (μBIST) based on reuse of signal blocks already present in an EES, such as microprocessors, memories, ADCs, DACs, is presented. The novelty of the μBIST solution is its extended functionality. It can perform 2 testing functions:...
wyświetlono 550 razy