Wyszukiwarka
New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits
Abstrakt
In the paper a new fault diagnosis-oriented neural network and a diagnostic method for localization of parametric faults in Analog Electronic Circuits (AECs) with tolerances is presented. The method belongs to the class of dictionary Simulation Before Test (SBT) methods. It utilizes dictionary fault signatures as a family of identification curves dispersed around nominal positions by component tolerances of the Circuit Under Test (CUT). A neural network based classifier with a new Two-Center Ellipsoidal Basis Functions (TCEBFs) is used for fault signature classification. The TCEBF classifier is more robust against component tolerances and multiple parametric faults in comparison with conventional Radial/Ellipsoidal Basis Function (RBF/EBF) neural networks. This article presents a description of the proposed diagnostic method, the construction procedure of the TCEBF, the architecture of the fault classifier and simulation results obtained for the low-pass analog filter.
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
nr T. 18,
strony 267 - 272,
ISSN: 1732-1166 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2010
- Opis bibliograficzny:
- Kowalewski M., Zielonko R.: New Two-center Ellipsoidal Basis Function Neural Network for Fault Diagnosis of Analog Electronic Circuits// Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne. -Vol. T. 18., (2010), s.267-272
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 103 razy