Wyszukiwarka
Abstrakt
We present methods and problems of noise measurements in electrical double-layer capacitors (EDLC). Detailed noise equivalent electronic circuit is considered, and two possible ways of observations of random processes generated in the EDLCs structures are studied. We conclude that noise is a useful tool for characterization of the EDLC structures and their state-of-health, as in other materials and electronic devices. Eventual, practical applications of noise measurements are proposed to determine the state-of-health of the EDLCs.
Cytowania
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
0
Scopus
Autorzy (3)
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 255 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
- Copyright (2019 EPFL)
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2019
- Opis bibliograficzny:
- Smulko J., Szewczyk A., Lentka Ł.: Noise in electrical double-layer capacitors (EDLCs)// / : , 2019,
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.5075/epfl-iclab-icnf-269291
- Źródła finansowania:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 77 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Investigation of noises in the EPN weekly time series
- A. Klos,
- J. Bogusz,
- M. Figurski
- + 2 autorów
2015
Measurements of flicker noise in supercapacitor cells
- A. Szewczyk,
- Ł. Lentka,
- J. Smulko
- + 2 autorów
2017