Odszumianie obrazów z mikroskopu sił atomowych - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Odszumianie obrazów z mikroskopu sił atomowych

Abstrakt

Znanych jest wiele metod odszumiania obrazów. Oprogramowanie przygotowane do tego celu wykorzystuje zwykle transformację falkową i jest często dostępne w sieci Internet lub np. jako tool-box w programie MatlabŸ. Brak jest jednak nadal ogólnych metod, które pozwoliłyby dobierać w sposób optymalny, ze względu na skuteczność usuwania szumów, parametry stosowanej transformacji. Ta uwaga dotyczy także odszumiania obrazów uzyskiwanych z mikroskopu sił atomowych - urządzenia pozwalającego pozyskiwać obrazy z powierzchni o bardzo małych wymiarach.Mikroskop sił atomowych jest nowoczesnym urządzeniem (o rozdzielczości rzędu ułamków nanometra), który skanuje powierzchnię badanego materiału używając ostro zakończonej igły wykonanej z piezoelektryka. Ugięcie igły jest mierzone jako prąd fotodiody indukowany przez promieniowanie lasera odbite od górnej powierzchni igły. Uzyskiwane obrazy zawierają lokalne zniekształcenia oraz wtrącenia, które należy usunąć. Oprogramo-wanie dostarczane do tego precyzyjnego i drogiego urządzenia nie pozwala na automatycz-ne wykonanie takiej korekty. Stąd, należy rozważyć przydatność istniejących algorytmów do tego zadania, aby usprawnić czynności wykonywane obecnie w sposób absorbujący operatora mikroskopu.W pracy przedstawiono propozycje rozwiązania tego problemu przy użyciu transformacji falkowej oraz operacji nieliniowego progowania dla detali stanowiących wynik zastosowa-nia tej transformaty. Przedstawione procedury były aplikowane w środowisku oprogramo-wania MatlabŸ dla obrazów o rozdzielczości 256x256 pikseli lub mniejszej.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja monograficzna
Typ:
rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
Tytuł wydania:
Metrologia dziś i jutro : praca zbiorowa strony 177 - 184
Język:
polski
Rok wydania:
2009
Opis bibliograficzny:
Kiwilszo M., Hasse L., Zieliński A.: Odszumianie obrazów z mikroskopu sił atomowych// Metrologia dziś i jutro : praca zbiorowa/ ed. pod redakcją Wiesława Kicińskiego, Leona Swędrowskiego. Gdańsk: Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych. Wydział Elektrotechniki i Automatyki. Politechnika Gdańska, 2009, s.177-184
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 78 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi