Abstrakt
Embedded system and software testing requires sophisticated methods, which are nowadays frequently supported by application of test patterns. This eases the test development process and contributes to the reusability and maintainability of the test specification. However, it does not guarantee the proper level of quality and test coverage in d ifferent dimensions of the test specification. In this paper the quality of the test is investigated and numerous metrics are defined. They are based mainly on the applied test patterns. They give a measure of quality for the test design and executed test cases w.r.t. a number of aspects. They also evidence the value of patterns application. If weighted, they enable to assess the executed tests.
Cytowania
-
3
CrossRef
-
0
Web of Science
-
4
Scopus
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- International Conference on Object-Oriented Programming, Systems, Languages, and Applications (OOPSLA 2008)
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2008
- Opis bibliograficzny:
- Zander J.: Quality of Test Specification by Application of Patterns// International Conference on Object-Oriented Programming, Systems, Languages, and Applications (OOPSLA 2008)/ New York, NY: , 2008,
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1145/1753196.1753200
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 109 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Test Design Patterns for Embedded Systems,
- J. Zander,
- A. M. Perez,
- I. Schieferdecker
- + 1 autorów