Wyszukiwarka
Abstrakt
Test suites for embedded systems are typically created from scratch using dif- ferent, often inadequate methods. In consequence, industry branches dealing with software-intensive embedded systems have to cope with quality problems, even though test processes are particularly time-consuming and costly. Based on an evolving model-based testing methodology we introduce test design patterns for simplifying and accelerating the test specification process. Making use of patterns, complex test objectives are covered with lower effort and test cases contain fewer design errors.
Autorzy (4)
-
Abel Marrero Perez
- Technische Universität Berlin ..
-
Ina Schieferdecker
- Technische Universität Berlin ..
-
Zhen Ru Dai
- Technische Universität Berlin ..
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- Proceedings of the 10th International Conference on Quality Engineering in Software Technology strony 1 - 16
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2007
- Opis bibliograficzny:
- Zander J., Perez A., Schieferdecker I., Dai Z.: Test Design Patterns for Embedded Systems,// Proceedings of the 10th International Conference on Quality Engineering in Software Technology/ Berlin: , 2007, s.1-16
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 137 razy