W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...

Mikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...

Rozwój technik mikroskopowych jest czynnikiem determinującym postęp technologiczny i nieodłącznym aspektem rozwoju nauki. Innowacyjne narzędzia mikroskopowe umożliwiają zupełnie nowe możliwości detekcji właściwości materiałowych. Wśród narzędzi mikroskopowych liczną grupę stanowią techniki mikroskopii ze skanującą sondą (SPM). W gronie technik SPM szczególne miejsce zajmują metody elektrochemiczne, zwłaszcza w pomiarach korozyjnych...