Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 13
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (11)
Wyniki wyszukiwania dla: ROZDZIELCZOŚĆ
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół badawczo-rozwojowy systemów hydroakustycznych
Potencjał Badawczy* systemy hydroakustyczne (nawigacyjne, echolokacyjne i komunikacyjne) * przetworniki ultradźwiękowe i anteny hydroakustyczne * propagacja fal akustycznych w morzu i wodach śródlądowych * prowadzone są również prace badawcze w zakresie akustyki teoretycznej, przetwarzania sygnałów analogowych i cyfrowych i techniki ultradźwiękowej * Katedry ma bogate, wieloletnie doświadczenie w budowie systemów hydroakustycznych, poczynając od...
-
Katedra Inżynierii Elektrycznej Transportu
Potencjał Badawczy* Diagnostyka techniczna i monitoring w systemach transportu zelektryfikowanego * Metody diagnostyki technicznej i monitoringu odbieraków prądu oraz górnej sieci trakcyjnej, w szczególności metody wizyjne * Modele matematyczne i symulacyjne odbieraków prądu i górnej sieci trakcyjnej * Modelowanie i analiza elektrotrakcyjnych układów zasilania * Modelowanie i sterowanie napędami elektrycznymi pojazdów * Redukcja zużycia energii...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: ROZDZIELCZOŚĆ
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Środowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych
Oferta BiznesowaŚrodowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych powstało w ramach realizacji projektu CZT Centrum Zaawansowanych Technologii POMORZE i mieści się w Katedrze Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Laboratorium zostało wyposażone w specjalistyczne zaplecze aparaturowe, które w połączeniu z kompetencjami naukowymi i technologicznymi kadry pozwala na...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (32)
Wyniki wyszukiwania dla: ROZDZIELCZOŚĆ
-
Wpływ doboru parametrów źródła na rozdzielczość pomiaru w interferometrii niskokoherencyjnej.
PublikacjaJednym z podstawowych elementów niskokoherencyjnego, interferometrycznego systemu pomiarowego jest szerokopasmowe źródło światła. Wybór źródła jest bardzo ważny, gdyż jego parametry mają bezpośredni wpływ na końcową jakość pomiaru. Z tego też względu wydaje się niezbędnym poznanie charakterystyk źródeł szerokopasmowych wykorzystywanych w interferometrii niskokoherencyjnej i zależności, pomiędzy parametrami źródła, a jakością pomiaru.
-
Group-type analysis of middle distillates by test method IP-391/EN-12916/ASTM D6379 in terms of resolution and selectivity of chromatographic columns
PublikacjaNa podstawie wyników badań z zastosowaniem różnych kolumn typu NH2 opisano wpływ selektywności wypełnienia kolumn HPLC na wyniki analizy grupowej węglowodorów aromatycznych oraz określono wymagania jakie powinna spełniać kolumna do oznaczania grup węglowodorów aromatycznych w średnich destylatach ropy naftowej. Badania przeprowadzono stosując metodykę analityczną według normy IP-391/EN-12916 albo ASTM D 6379.
-
Wyznaczanie rozdzielczości pomiarów widm Ramana
PublikacjaOpisano parametry wpływające na rozdzielczość pomiarów widm Ramana. Następnie przedstawiono sposób wyznaczania rozdzielczości dla przykładowego układu spektrometru, wykorzystywanego w projekcie badawczym budowy przenośnego spektrometru Ramana. Wyniki analizy przeprowadzonej na podstawie prążków występujących w kilku pomierzonych widmach potwierdziły zgodność obliczeń z obserwowaną rozdzielczością pomiarów w przedziale 8,5-10,5...
-
Alicja Konczakowska prof. dr hab. inż.
Osoby -
Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.
PublikacjaW artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.