Filtry
wszystkich: 17
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (15)
Wyniki wyszukiwania dla: RYZYKO PRODUCENTA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Zarządzania Jakością i Towaroznawstwa
Potencjał BadawczyZakład Towaroznawstwa * analiza etykiet i projekty nowych opakowań wybranych produktów spożywczych, * badania nad sensorami smaku, * analiza jakości produktów spożywczych, * wybrane zagadnienia z ekologii i ochrony środowiska naturalnego w aspekcie integracji z Unią Europejską. Zakład Zarządzania Jakością * zarządzanie jakością, TQM; * systemy zarządzania jakością, środowiskiem, BHP oraz bezpieczeństwem informacji; * systemy...
-
Katedra Inżynierii Zarządzania Operacyjnego
Potencjał Badawczy* procesy i zarządzanie innowacjami w organizacjach gospodarczych * procesy i zarządzanie zmianą w systemach produkcyjnych * zarządzanie projektami, programami oraz portfolio projektów innowacyjnych i rozwojowych * modelowanie i doskonalenie procesów oraz systemów produkcyjnych * projektowanie i optymalizacja technologii informatycznych w inteligentnych systemach produkcyjnych * ilościowe metody wspomagania decyzji w systemach...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: RYZYKO PRODUCENTA
-
Laboratorium Inżynierii Jakości LAB Q
Oferta Biznesowa1. Six sigma – podstawy 2. Six Sigma – wybrane narzędzia (m.in. analiza rozkładu - rozkład normalny/dwumianowy, normalizacja rozkładu – centralne twierdzenie graniczne) 3. Six Sigma - testowanie hipotez (rozróżnianie grup komponentów na podstawie pomiarów i analizy statystycznej) z wykorzystaniem programu Minitab 4. Analiza systemów pomiarowych (MSA) dla pomiarów powtarzalnych z wykorzystaniem programu Minitab (m.in. Gage R&R...
-
Laboratorium Wysokich Napięć
Oferta BiznesowaBadania układów probierczych i pomiarowych stosowanych w technice wysokiego napięcia
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (4)
Wyniki wyszukiwania dla: RYZYKO PRODUCENTA
-
Ryzyko ponoszone przez producenta i konsumenta z powodu niepewności pomiarów
PublikacjaPrzeprowadzono krytyczną dyskusję stosowanych w literaturze definicji ryzyka błędnych decyzji wynikających z niepewności pomiarów. Dla znanych rozkładów prawdopodobieństwa charakteryzujących produkcję i aparaturę pomiarową dokonano analizy ryzyka na przykładzie testowania amplitudy napięcia. Pokazano, że tradycyjne definicje ryzyka producenta i ryzyka konsumenta są przypisywane prawdopodobieństwom zaniżonym. Porównano je z definicjami...
-
Ocena ryzyka ponoszonego przez producenta/konsumenta z powodu niepewności pomiarów
PublikacjaZaproponowano definicje ryzyka ponoszonego przez producenta i konsumenta z powodu niepewności pomiarów. Na przykładzie testowania amplitudy sygnału obliczono poziomy ryzyka według znanych z literatury i proponowanych definicji. Różnice między wynikami wskazują, że problem jest istotny. Proponowane podejście jest lepiej dostosowane do praktyki produkcyjnej.
-
Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
PublikacjaRozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...
-
Aleksandra Giełdoń - Paszek dr hab.
OsobyDoktor habilitowany w dziedzinie nauk o sztuce, historyk sztuki. Studiowała historię sztuki na Wydziale Filozoficzno-Historycznym Uniwersytetu Jagiellońskiego w Krakowie. W roku 2002 na Wydziale Historycznym tejże uczelni uzyskała tytuł doktora nauk humanistycznych w zakresie nauk o sztuce na podstawie dysertacji: Malarstwo pejzażowe a szkolnictwo artystyczne w Polsce (do 1939 roku). W roku 2015 została doktorem habilitowanym w...