Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 90
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (67)
Wyniki wyszukiwania dla: SCANNING PROBE MICROSCOPY
-
Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej
Potencjał BadawczyBadania realizowane przez pracowników Katedry obejmują w szczególności: zjawiska i procesy elektrochemiczne, podstawy korozji i zabezpieczenie przed korozją, inżynierię materiałowa, fizykochemię powierzchni. W Katedrze Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej realizowanych jest szereg kierunków związanych z badaniami podstawowymi jak i techniczno-technologicznymi. Głównymi obszarami działalności naukowej są: badania mechanizmu...
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Fizyki Ciała Stałego
Potencjał BadawczyTematyka badawcza Katedry Fizyki Ciała Stałego obejmuje wytwarzanie i badanie materiałów dla energetyki (m.in. nanostruktury, sensory) o innowacyjnych właściwościach fizyko-chemicznych, tj: * kryształy, polikryształy, ceramika, szkło * materiały objętościowe, cienkie warstwy, nanomateriały * materiały metaliczne, półprzewodnikowe, nadprzewodnikowe, izolatory Tematyka badawcza obejmuje również badania symulacyjne i obliczeniowe...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (23)
Wyniki wyszukiwania dla: SCANNING PROBE MICROSCOPY
-
Scanning Electron Microscopy Facility
Oferta Biznesowa -
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Oferta BiznesowaBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (1456)
Wyniki wyszukiwania dla: SCANNING PROBE MICROSCOPY
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to scanning probe microscopy.
PublikacjaDynamic impedance spectroscopy, designed for measuring nonstationary systems, was used in combination with scanning probe microscopy. Using this approach, impedance mapping could be carried-out simultaneously with topography scanning. Therefore, correlation of electrical properties with particular phases of an examined sample was possible. The sample used in this study was spheroidal graphite cast iron with clearly defined phases...
-
Application of Dynamic Impedance Spectroscopy to Scanning Probe Microscopy
Publikacja -
Electrical and mechanical characterization of two-phase alloys by means of scanning probe microscopy in dynamic impedance spectroscopy mode
PublikacjaDynamic impedance spectroscopy, evaluated for measuring non-stationary systems, was used in combination with scanning probe microscope. Using this approach, localized impedance measurements in the AFM contact mode could be carried out. Additionally, impedance–force curves were made at each phase of investigated materials to illustrate the relation between impedance and the force applied to a probe. Therefore, correlation of electrical...
-
Scanning Probe Microscopy in Electrochemistry and Materials Science
Kursy OnlineProwadzący: Prof. Jacek LIPKOWSKI z University of Guelph, Ontario, Canada. Kurs zorganizowany dla doktorantów Wydziału Chemicznego Politechniki Gdańskiej. Dostęp do kursu po kontakcie z administratorem.
-
Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy
PublikacjaIn this paper, the fabrication process and electromechanical properties of novel atomic force microscopy probes utilising single-crystal boron-doped diamond are presented. The developed probes integrate scanning tips made of chemical vapour deposition-grown, freestanding diamond foil. The fabrication procedure was performed using nanomanipulation techniques combined with scanning electron microscopy and focused ion beam technologies....