Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 34
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (26)
Wyniki wyszukiwania dla: SPEKTROSKOPIA MIKROFALOWA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej
Potencjał BadawczyBadania realizowane przez pracowników Katedry obejmują w szczególności: zjawiska i procesy elektrochemiczne, podstawy korozji i zabezpieczenie przed korozją, inżynierię materiałowa, fizykochemię powierzchni. W Katedrze Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej realizowanych jest szereg kierunków związanych z badaniami podstawowymi jak i techniczno-technologicznymi. Głównymi obszarami działalności naukowej są: badania mechanizmu...
-
KatedrA Chemii Fizycznej
Potencjał Badawczy1.Termodynamika i struktura roztworów, oddziaływania międzycząsteczkowe w roztworach - badania termodynamiczne, spektroskopowe i teoretyczne. 2. Fizykochemiczne podstawy analizy środowiskowej.
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (8)
Wyniki wyszukiwania dla: SPEKTROSKOPIA MIKROFALOWA
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Materiałów Polimerowych
Oferta BiznesowaLaboratorium jest wyposażone w:; • plastometr do badań wskaźnika szybkości płynięcia uplastycznionego tworzywa, ; • młot do badań udarności materiałów, ; • wtryskarkę hydrauliczną z urządzeniami peryferyjnymi wymaganymi do uruchomienia produkcji znormalizowanych próbek do badań wytrzymałościowych,; • zestaw urządzeń przetwórczo - pomiarowych;
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (465)
Wyniki wyszukiwania dla: SPEKTROSKOPIA MIKROFALOWA
-
Kontrola stanu wykładzin przeciwkorozyjnych przy zastosowaniu spektroskopii mikrofalowej i metod chemometrycznych
PublikacjaPrzedstawiono nową niedestrukcyjną metodę kontroli jakości nowych wykładzin przeciwkorozyjnych na podłożu metalowym oraz oceny ich stanu w trakcie eksploatacji przy zastosowaniu spektroskopii mikrofalowej w szerokim zakresie częstotliwości od 6,5 do 20 GHz. Uzyskane dane poddawane są obróbce chemometrycznej w celu redukcji danych doświadczalnych i wizualizacji rezultatów. Zaprezentowano podstawy teoretyczne metody oraz przykładowe...
-
Obciążenie wzorcowe na duże moce mikrofalowe
PublikacjaOmówiono krótko rozwój reflektometrów mikrofalowych oraz zasadę i konstrukcję reflektometrów pracujących z dużymi poziomami mocy. Przeanalizowano wpływ wartości modułu współczynnika odbicia obciążenia wzorcowego, które jest stosowane w procedurze kalibracyjnej reflektometrów, na dokładność reflektometrycznych pomiarów niedopasowania impedancyjnego oraz istotnych w badaniach procesów grzania mikrofalowego pomiarów mocy dostarczanej...
-
Spektroskopia Bliskiej Podczerwieni NIR
PublikacjaSpektroskopia bliskiej podczerwieni (NIR) odgrywa coraz większą rolę w analizie ilościowej i jakościowej. Zaletami wykorzystywanej techniki NIR są: 1) nieniszczący, nieinwazyjny charakter analizy, 2) brak konieczności przygotowania próbki przed analizą, 3) prostota i szybkość wykonania rutynowej analizy, 4) wysoka czułość, 5) niski koszt, 6) uzyskanie kompleksowego obrazu badanego materiału, 7) zwiększenie bezpieczeństwa pracy...
-
Spektroskopia elektro-ultradźwiękowa warystorów wysokonapięciowych
PublikacjaPrzedstawiono nową nieniszczącą metodę wykrywania defektów dwójni-ków. W metodzie wykorzystuje się wzajemne oddziaływanie fononów ultradźwiękowych i elektronów wskutek istnienia defektu powodującego nieliniowości. Testowana próbka jest pobudzana przez sygnały harmo-niczne: elektryczny i ultradźwiękowy o różnych częstotliwościach. Wsku-tek nieliniowości powodowanej przez defekt struktury próbki powstaje nowy sygnał harmoniczny o...
-
Rozproszony system spektroskopii impedancyjnej
PublikacjaW artykule przedstawiono rozproszony system pomiarowy spektroskopii impedancyjnej przeznaczony do badania i monitorowania obiektów technicznych bezpośrednio w terenie. Omówiono architekturę systemu, skupiając się na doborze i organizacji części komunikacyjnej na bazie bezprzewodowego standardu ZigBee. Przedstawiono wyniki testów części komunikacyjnej systemu, w szczególności badanie zasięgu w typowych warunkach eksploatacji.