Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY - POMIARY - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY - POMIARY

Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (7)

Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY - POMIARY

  • Zespół Metrologii i Optoelektroniki

    * komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

  • Zespół Systemów Decyzyjnych i Robotyki

    Automatyka i Robotyka, która posiada silne posadowienie w matematycznej Teorii Systemów i Teorii Sterowania, już w połowie ubiegłego stulecia zaistniała w powszechnej świadomości jako Cybernetyka, która – kontynuując czerpanie wiedzy ze zjawisk istniejących w świecie natury – przekształciła się w Sztuczną Inteligencję, ciągle nie przestaje być dynamicznie rozwijającą się dziedziną z gruntu interdyscyplinarną, łączącą wiedzę i umiejętności...

  • Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych

    * Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego

Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (14)

Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY - POMIARY

  • Arkadiusz Szewczyk dr inż.

    Arkadiusz Szewczyk uzyskał tytuł magistra inżyniera w roku 1996 na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej w zakresie aparatury elektronicznej. Stopień doktora nauk technicznych uzyskał w roku 2002 w ramach współpracy pomiędzy Politechniką Gdańską a Institut National Polytechnique de Grenoble we Francji. Obecnie zatrudniony jest w Katedrze Metrologii i Optoelektroniki na stanowisku adiunkta. W...

  • RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices

    Przedstawiono wyniki pomiarów szumów z zakresu małuch częstotliwości transoptorów typu CNY17. Pomiary wykonano w systemie zaprojektowanym i skonstruowanym przez Autorów. Stwierdzono występowanie szumów RTS w kilku egzemplarzach badanej próby transoptorów. Przeprowadzono analizę szumów RTS, zarówno w dziedzinie czasu, jak i w dziedzinie częstotliwości. Oszacowano wartość częstotliwości, przy której występują szumy wybuchowe, na...

  • Techniques of interference reduction in probe system for wafer level noise measurements of submicron semiconductor devices.

    Publikacja

    Przedstawiono skrótowo system do ostrzowych pomiarów szumów struktur submikronowych. Znaczny wpływ na pomiary ostrzowe mają zakłócenia i szumy własne systemu, zwłaszcza zakłócenia o wysokim poziomie wpraowadzane przez ostrza (fluktuacje rezystancji styków ostrza do struktury powodowane przez wibracje i udary mechaniczne w środowisku pomiarowym)i środowisko elektromagnetyczne. Zakłócenia okresowe powodowane przez wibracje i pola...

  • Szumy czujników : Metody pomiarów i analizy

    Publikacja

    - Rok 2014

    W pracy przedstawiono problematykę pomiarów i analizy szumów w wybranych rodzajach czujników. Przedstawiono mechanizmy powstawania szumów, metody ich pomiarów oraz analizy. W pracy występuje szereg przykładów w których szumy są źródłem informacji o zjawiskach zachodzących w otoczeniu czujnika. Praca będzie przydatna dla osób zajmujących się problematyką pomiarów i analizy sygnałow o niewielkiej intensywności.

  • Fluctuation phenomena in semiconductor gas sensors

    Czujniki gazu mogą być wytwarzane z cienkiej warstwy półprzewodnika, która po podgrzaniu do odpowiedniej temperatury staje się czuła na gaz. Zjawisko to jest dobrze znane i szeroko opisane w literaturze. Jako wskaźnik detekcji gazu wykorzystuje się zmianę rezystancji stałoprądowej czujnika. Zwiększenie czułości i, co najważniejsze z praktycznego punktu widzenia, selektywności dyskryminacji można uzyskać jeśli warstwa półprzewodnika...