Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY PRĄDOWE REZYSTORÓW - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY PRĄDOWE REZYSTORÓW

Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (16)

Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY PRĄDOWE REZYSTORÓW

  • Zespół Metrologii i Optoelektroniki

    * komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

  • Zespół Systemów Mikroelektronicznych

    * projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...

  • Katedra Automatyki Napędu Elektrycznego i Konwersji Energii

    * nieliniowe sterowanie maszynami elektrycznymi * napędy elektryczne o sterowaniu bez czujnikowym * sterowanie przekształtnikami energoelektronicznymi, w tym przekształtnikami na średnie napięcia i przekształtnikami sieciowymi * energoelektroniczne układy przetwarzania energii w odnawialnych źródłach energii * projektowanie i badanie falowników i przetwornic * projektowanie układów sterowania mikroprocesorowego z wykorzystaniem...

Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (2)

Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY PRĄDOWE REZYSTORÓW

Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (70)

Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY PRĄDOWE REZYSTORÓW

  • Low-frequency current noise in electrochromic devices

    Publikacja
    • J. Smulko
    • A. Azens
    • L. B. Kish
    • C. G. Granqvist

    - SMART MATERIALS & STRUCTURES - Rok 2008

    Obserwowano szumy typu 1/f w elemencie wykazującym zjawisko elektrochromizmu - zmiany swoich parametrów optycznych (przezroczystości) pod wpływem przyłożonego napięcia. Element składał się z porowatej warstwy nanocząstek WO3 oraz tlenku Ni-V. Obserwowano gęstość widmową mocy prądu szumów, która zalezała liniowo od kwadratu prądu stałego I płynącego przez element. Stwierdzono, że intensywne przełączanie elementu między trybem przezroczystym...

  • New trim configurations for laser trimmed thick-film resistors - theoretical analysis, numerical simulation and experimential verification

    Publikacja

    - MICROELECTRONICS RELIABILITY - Rok 2005

    W pracy przedstawiono nowe podejście do korekcji rezystorów warstwowych polegające na wytwarzaniu dodatkowego kontaktu w celu rozszerzenia zakresu korekcji i uproszczenia projektowania. Ponadto zaprezentowano nową szybką metodę wyznaczania charakterystyk korekcyjnych a także weryfikację eksperymentalną. Przedstawiono wyniki w postaci zakresów korekcji i względnych przyrostów rezystancji w funkcji kształtu dodatkowego kontaktu oraz...

  • A method of two-terminal excess noise measurement with a reduction of measurement system and contact noise

    Publikacja

    Przedstawiono metodę i system do pomiaru szumów nadmiarowych dwójników elektrycznych ze znaczną redukcją wpływu szumów własnych systemu pomiarowego i szumów kontaków. Proponowana metoda może byc zastosowana do pomiaru szumów elementów z wyprowadzonymi końcówkami, bądź też struktur, gdy jako wzorcowy szum odniesienia może zostać zastosowany szum struktury rezystywnej wytworzonej bezpośrednio na strukturze w otoczeniu elementu testowanego.

  • Nowe podejście do projektowania i realizacji korekcji laserowej rezystorów warstwowych.

    Publikacja

    - Rok 2004

    W pracy zaproponowano i przeanalizowano nowe podejście do projektowania i realizacji korekcji laserowej rezystorów warstwowych polegające na zastępowaniu rezystorów 2-kontaktowych strukturami 3-kontaktowymi, które następnie poddawane są korekcji. Ma to wpływ na zwiększenie zakresu korekcji i zmianę czułościowych charakterystyk strojenia.

  • Szumy czujników : Metody pomiarów i analizy

    Publikacja

    - Rok 2014

    W pracy przedstawiono problematykę pomiarów i analizy szumów w wybranych rodzajach czujników. Przedstawiono mechanizmy powstawania szumów, metody ich pomiarów oraz analizy. W pracy występuje szereg przykładów w których szumy są źródłem informacji o zjawiskach zachodzących w otoczeniu czujnika. Praca będzie przydatna dla osób zajmujących się problematyką pomiarów i analizy sygnałow o niewielkiej intensywności.