Filtry
wszystkich: 137
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (104)
Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY TYPU 1/F^αLFA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Elektroenergetyki
Potencjał Badawczy* ochrona i bezpieczeństwo pracy systemu elektroenergetycznego, * stabilność sterowanie pracą systemu elektroenergetycznego, * kompleksowe modelowanie systemów elektroenergetycznych oraz szczegółowe modele elementów systemu, * urządzenia FACTS i systemy HVDC w systemach elektroenergetycznych, * odnawialne źródła energii w systemach elektroenergetycznych, * urządzenia i instalacje elektryczne, * optymalizacja struktury i parametrów...
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Potencjał Badawczy* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (33)
Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY TYPU 1/F^αLFA
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Oferta BiznesowaBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
-
Laboratorium Fizyki Zderzeń Elektronowych
Oferta BiznesowaBadania oddziaływań nisko- i średnio-energetycznych elektronów z atomami i drobinami wieloatomowymi w różnych stanach skupienia
-
Laboratorium Automatyki Napędu Elektrycznego
Oferta BiznesowaProgramowalne układy napędowe zasilane przekształtnikowo ze sterowaniem mikroprocesorowym
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (412)
Wyniki wyszukiwania dla: SZUMY TYPU 1/F^αLFA
-
Quality assessments of electrochromic devices: the possibleuse of 1/f current noise
PublikacjaElementy wykorzystujące zjawisko elektrochromizmu, potrafiące zmieniać przezroczystość za pomocą ładowania/rozładowania ładunkiem elektrycznym, wykonano na bazie laminatów pokrytych porowatą strukturą tlenków Ni oraz tlenków Wi-V. Oba laminaty, na które naniesiono przewodzącą warstwę In2O3, przedzielono warstwą elektrolitu. Obserwowano szumy typu 1/f w prądzie I płynącym w trakcie rozładowywania urządzenia. Gęstość widmowa mocy...
-
Alicja Konczakowska prof. dr hab. inż.
Osoby -
Low-frequency current noise in electrochromic devices
PublikacjaObserwowano szumy typu 1/f w elemencie wykazującym zjawisko elektrochromizmu - zmiany swoich parametrów optycznych (przezroczystości) pod wpływem przyłożonego napięcia. Element składał się z porowatej warstwy nanocząstek WO3 oraz tlenku Ni-V. Obserwowano gęstość widmową mocy prądu szumów, która zalezała liniowo od kwadratu prądu stałego I płynącego przez element. Stwierdzono, że intensywne przełączanie elementu między trybem przezroczystym...
-
Metody zwiększenia czułości dwukanałowego systemu pomiaru szumów.
PublikacjaZnajomość właściwości szumowych elementów elektronicznych w zakresie małych częstotliwości, gdzie dominują szumy o widmie typu 1/f, stanowi efektywne narzędzie oceny jakości procesu technologicznego wytwarzania tych elementów oraz predykcji ich niezawodności. Przeprowadzenie dokładnych pomiarów parametrów i charakterystyk szumowych stwarza jednak często wiele problemów.
-
Metody usuwania zakłóceń podczas pomiarów polowych widm Ramana
PublikacjaW pracy zostały scharakteryzowane źródła zakłóceń występujące podczas pomiarów widm Ramana w warunkach polowych. Zaprezentowano wpływ czasu integracji na jakość rejestrowanych widm w przypadkach, gdy szumy własne spektrometru mają składową typu 1/f, dominującą w zakresie małych częstotliwości. Przedstawiono także wyniki uzyskane podczas pomiarów z detekcją synchroniczną, stosowaną w przenośnych spektrometrach Ramana, w pomiarach...