Filtry
wszystkich: 73
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (60)
Wyniki wyszukiwania dla: THICKNESS MEASUREMENT
-
Zespół Obrabiarek, Narzędzi i Obróbki Skrawaniem
Potencjał BadawczyMechaniczna technologia drewna
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Potencjał Badawczy* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (13)
Wyniki wyszukiwania dla: THICKNESS MEASUREMENT
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Konstrukcji Oceanotechnicznych
Oferta BiznesowaBadania mechaniczne, badania zmęczeniowe, badania metalograficzne, badania całych węzłów konstrukcyjnych, pomiary wytężenia rzeczywistych konstrukcji
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (455)
Wyniki wyszukiwania dla: THICKNESS MEASUREMENT
-
Thickness monitoring of thin lamellae by optical measurement method
PublikacjaDo dnia dziesiejszego do pomiaru grubosci tarcicy używa się głównie suwmiarek. Celem projektu było opracowanie skanera, nie wymagajacego wysokich nakładów finansowych, do pomiarów grubości lameli po operacji rozpiłowywania drewna. Opracowany system jest zdolny do wykrywania elementów odbiegajacych od okreslonych tolerancji wymiarowych. zastosowano metodę pomiaru typu sandwich wykorzystująca 4 głowice laserowe. Wyazano, że przy...
-
Laser reflectance interferometry system with a 405 nm laser diode for in-situ measurement of CVD diamond thickness
PublikacjaIn situ monitoring of the thickness of thin diamond films during technological processes is important because it allows better control of deposition time and deeper understanding of deposition kinetics. One of the widely used techniques is laser reflectance interferometry (LRI) which enables non-contact measurement during CVD deposition. The authors have built a novel LRI system with a 405 nm laser diode which achieves better...
-
Chromatic monitoring technique for thickness measurementof thin transparent films.IV Workshopon Atomic and Molecular Physics.
PublikacjaW pracy opisano nową technikę monitorowania grubości cienkich warstw podczas procesu ich syntezy. Jest to optyczna metoda oparta na zdegenerowanej analizie widmowej tzw. modulacji chromatycznej. Umożliwia ona precyzyjny ciągły pomiar zmian grubości wzrastających warstw stosowanych w optyce.
-
Algorithm for Automatic Wear Estimation of Railway Contact Strips Based on 3D Scanning Results
PublikacjaElectric rail vehicles use current collection system which consists of overhead contact line and a current collector (pantograph) mounted on the roof of a vehicle. A pantograph is equipped with contact strips, which slide along the contact wire, ensuring steady electric contact. Contact strips are made of carbon layer, fixed to an aluminum carrier. The carbon layer wears down due to friction. Using overly worn contact strips increases...
-
FIBRE-OPTIC SENSOR FOR SIMULTANEOUS MEASUREMENT OF THICKNESSAND REFRACTIVE INDEX OF LIQUID LAYERS
PublikacjaIn this paper, we present a fibre-optic sensor for simultaneous measurement of refractive index and thickness of liquid layers. We designed an experimental low-coherence setup with two broadband light sources and an extrinsic fibre-optic Fabry–Pérot interferometer acting as the sensing head. We examined how the refractive index of a liquid film and its thickness affect spectrum at the output of a fibre-optic interferometer. We...