Wyniki wyszukiwania dla: USZKODZENIA ANALOGOWE - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: USZKODZENIA ANALOGOWE

Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (6)

Wyniki wyszukiwania dla: USZKODZENIA ANALOGOWE

  • Katedra Automatyki Napędu Elektrycznego i Konwersji Energii

    * nieliniowe sterowanie maszynami elektrycznymi * napędy elektryczne o sterowaniu bez czujnikowym * sterowanie przekształtnikami energoelektronicznymi, w tym przekształtnikami na średnie napięcia i przekształtnikami sieciowymi * energoelektroniczne układy przetwarzania energii w odnawialnych źródłach energii * projektowanie i badanie falowników i przetwornic * projektowanie układów sterowania mikroprocesorowego z wykorzystaniem...

  • Katedra Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki

    W Katedrze Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki prowadzone są badania w tematyce podstaw elektrotechniki, zaawansowanych systemów sterowania, prototypowania dedykowanych rozwiązań sprzętowych w FPGA. Prowadzone badania skupiają się również na wykorzystaniu zaawansowanych technik analizy komputerowej w systemach sterowania oraz elektrotechniki.

  • Zespół Metrologii i Optoelektroniki

    * komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (1)

Wyniki wyszukiwania dla: USZKODZENIA ANALOGOWE

Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (1)

Wyniki wyszukiwania dla: USZKODZENIA ANALOGOWE

  • Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych

    Publikacja

    W artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...