W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...

Mikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...

W pracy opisano postępy w badaniach mikroskopowych poliuretanów segmentowych. Przedmiotem omówienia były mikroskopia optyczna polaryzacyjna, mikroskopia optyczna konfokalna, mikroskopia elektronowa, mikroskopia sił atomowych oraz połączone badania mikroskopowe z innymi metodami (spektometria mikroramanowska, mikroskopia termiczna). Za pomocą tych metod zinterpretowano morfologie poliestrouretanów otrzymywanych w technologii reaktywnego...

Organiczne powłoki ochronne stanowią jeden z najpowszechniej stosowanych środków ochrony antykorozyjnej materiałów konstrukcyjnych. Ich trwałość i czas eksploatacji zależą m.in. od rodzaju materiału polimerowego oraz warunków użytkowania.Wiedza na temat podatności poszczególnych powłok na degradację, mechanizmu niszczenia, miejsc inicjacji procesu degradacyjnego umożliwia prawidłową selekcję powłoki. Jednakże znaczna część technik...

Celem badania było określenie wpływu promieniowania ultrafioletowego na morfologię powierzchni powłoki i na jej właściwości elektryczne. Cienka powłoka z polimetakrylanu metylu została nałożona na podłoże stalowe metodą zanurzeniową. Oceny stanu przed ekspozycją UV i w jej trakcie dokonywano przy użyciu mikroskopu sił atomowych. Na obrazach AFM zaobserwowano pojawienie się mikropęknięć. Celem zweryfikowania czy wykryte nieciągłości...