Filtry
wszystkich: 100
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (77)
Wyniki wyszukiwania dla: x-ray reflectometry
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Budownictwa i Inżynierii Materiałowej
Potencjał Badawczy* budownictwo ogólne i przemysłowe * materiały budowlane, chemia budowlana * konstrukcje drewniane i zespolone * remonty i modernizacje konstrukcji budowlanych oraz fizyka budowli
-
Zespół Katedry Równań Różniczkowych i Zastosowań Matematyki
Potencjał Badawczy* topologiczne niezmienniki w teorii układów dynamicznych i ich zastosowania * teoria punktów stałych i periodycznych * metody matematyczne w kardiologii * miary złożoności i ich zastosowania * modele strukturalne z dyfuzją i warunkami brzegowymi Fellera * modelowanie ekspresji genu białka Hes1 * równania McKendrick-von Foerster z warunkiem odnowy * modelowanie termicznej ablacji za pomocą równania bio-przewodnictwa ciepła * soczewkowanie...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (23)
Wyniki wyszukiwania dla: x-ray reflectometry
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Inżynierii Materiałowej, Fizyki Budowli i Technologii Betonu
Oferta Biznesowanull 1. Wykonywanie orzeczeń, opinii oraz ekspertyz technicznych dotyczących materiałów budowlanych oraz konstrukcji inżynierskich. 2. Badania laboratoryjne i in-situ w celu określenia właściwości materiałów wykorzystywanych w budownictwie 3. Prowadzenie naukowych badań doświadczalnych elementów betonowych, żelbetowych i kompozytowych
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (4968)
Wyniki wyszukiwania dla: x-ray reflectometry
-
High resolution X-ray diffractometry and reflectometry of semiconductor nano- and micro- structures based on X-ray refractive optics
PublikacjaIn this thesis proposed, discussed and studied novel synchrotron X-ray diffractometry and reflectometry methods based on a refractive optics. The experimental results obtained from the ID06 beamline at ESRF, Grenoble, France are presented and analyzed in this work to demonstrate a high angular and space resolution in addition to the opportunity to manage in situ and on operando experiments with the help of proposed X-ray optical...
-
X-RAY SPECTROMETRY
Czasopisma -
Study of the Layer-Type BST Thin Film with X-ray Diffraction and X-ray Photoelectron Spectroscopy
PublikacjaIn the present paper, results of X-ray photoelectron studies of electroceramic thin films of barium strontium titanate, Ba1xSrxTiO3 (BST), composition deposited on stainless-steel substrates are presented. The thin films were prepared by the sol-gel method. A spin-coating deposition of BST layers with different chemical compositions was utilized so the layer-type structure of (0-2) connectivity was formed. After the deposition,...
-
Modeling of the M X-ray line structures for tungsten and L X-ray line structures for molybdenum
Publikacja -
X-ray absorption fine structure and x-ray diffraction studies of crystallographic grains in nanocrystalline FePd:Cu thin films
Publikacja