Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 43
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (35)
Wyniki wyszukiwania dla: PLZT
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół organicznych ogniw fotowoltaicznych i fotodetektorów
Potencjał BadawczyTematyka badawcza Zespołu OOFiF związana jest z własnościami fotowoltaicznymi wielowarstwowych układów zbudowanych z organicznych i nieorganicznych warstw nanoszonych techniką próżniową lub z roztworu.
-
Katedra Mechatroniki i Inżynierii Wysokich Napięć
Potencjał Badawczy* Precyzyjna estymacja powierzchni ciała człowieka * Analiza biosygnałów * Systemy rehabilitacyjne * Analiza wpływu pól elektromagnetycznych na organizmy żywe * Elektro-mechaniczne struktury periodyczne jako aktywne akustycznie metamateriały * Właściwości elektro-mechaniczne materiałów dielektrycznych w różnych warunkach środowiskowych * Prądy upływu w diagnostyce ochronników przepięciowych * Roboty mobilne do diagnostyki linii...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (8)
Wyniki wyszukiwania dla: PLZT
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Oferta BiznesowaBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
-
Laboratorium Materiałów Polimerowych
Oferta BiznesowaLaboratorium jest wyposażone w:; • plastometr do badań wskaźnika szybkości płynięcia uplastycznionego tworzywa, ; • młot do badań udarności materiałów, ; • wtryskarkę hydrauliczną z urządzeniami peryferyjnymi wymaganymi do uruchomienia produkcji znormalizowanych próbek do badań wytrzymałościowych,; • zestaw urządzeń przetwórczo - pomiarowych;
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (103)
Wyniki wyszukiwania dla: PLZT
-
LTCC compatible PLZT thick-films for piezoelectric devices.
PublikacjaOpisano proces produkcji grubych warstw PLZT oraz pomiary ich dielektrycznych i piezoelektrycznych parametrów. Temperatura obróbki termicznej (850 stopni C) czyni te warstwy kompatybilnymi z technologią LTCC.
-
Determination of local polarization properties of PLZT ceramics by PS-OCT
Publikacja.
-
Szybkie elektrooptyczne układy próbkujące wykorzystujące ferroelektryczną ceramikę PLZT
PublikacjaW artykule omówiono konstrukcje elektrooptycznych układów próbkujących wykorzystujących ceramikę PLZT. Zaprezentowano także zagadnienia związane z pomiarami istotnych parametrów cienkich warstw tej ceramiki - grubości warstwy, współczynnika załamania i współczynnika elektrooptycznego. Przedstawiono kierunki dalszych prac.
-
Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej
PublikacjaW artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania...
-
Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej
PublikacjaW artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania...