Filtry
wszystkich: 4
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENCYJNA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej
Potencjał BadawczySpecjalność badawcza KIMiA wiąże się z techniką b.w.cz. i dotyczy zakresu częstotliwości od setek megaherców do kilkudziesięciu gigaherców. Przedmiotem badań teoretycznych (analiza, synteza, symulacja i modelowanie komputerowe,) oraz eksperymentalnych są elementy (prowadnice, sprzęgacze, rozgałęzienia) oraz układy pasywne (cyrkulatory, przesuwniki fazy, obciążenia, tłumiki) i aktywne (wzmacniacze, mieszacze, powielacze, modulatory),...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENCYJNA
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (23)
Wyniki wyszukiwania dla: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENCYJNA
-
Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.
PublikacjaW artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.
-
Niskokoherencyjne czujniki światłowodowe wykorzystujące cienkowarstwowe struktury nanodiamentowe
PublikacjaZnaczny rozwój technologii wytwarzania czujników światłowodowych spowodował, że są one powszechnie dostępne i stosowane w wielu gałęziach przemysłu, nauki oraz medycyny. Zastosowanie nowych materiałów w konstrukcji takich czujników niesie za sobą duży potencjał. Celem rozprawy jest przedstawienie możliwości wykorzystania cienkowarstwowych struktur nanodiamentowych w niskokoherencyjnych czujnikach światłowodowych, które poprawią...
-
High resolution optical time-domain reflectometry using sub-picosecond laser sources
PublikacjaPrzedstawiono działanie sensorów światłowodowych wykorzystujących reflektometrię optyczną w dziedzinie czasu. Omówiono ograniczenia możliwości pomiarowych tej klasy sensorów wynikające z zastosowania w nich reflektometrów światłowodowych zaprojektowanych do zastosowań w telekomunikacji. Zaprezentowano sensory wykorzystujące specjalizowane reflektometry o dużej rozdzielczości. Przedstawiono koncepcję sensora wykorzystującego dwa...
-
Wpływ doboru parametrów źródła na rozdzielczość pomiaru w interferometrii niskokoherencyjnej.
PublikacjaJednym z podstawowych elementów niskokoherencyjnego, interferometrycznego systemu pomiarowego jest szerokopasmowe źródło światła. Wybór źródła jest bardzo ważny, gdyż jego parametry mają bezpośredni wpływ na końcową jakość pomiaru. Z tego też względu wydaje się niezbędnym poznanie charakterystyk źródeł szerokopasmowych wykorzystywanych w interferometrii niskokoherencyjnej i zależności, pomiędzy parametrami źródła, a jakością pomiaru.
-
Determination of ionic concentration in water using reflectometric optical reader. IV Workshopon Atomic and Molecular Physics.
PublikacjaW artykule zaprezentowano reflektometryczną metodę oznaczania stężenia jonów w wodzie wykorzystując suche testy. Kształt widma reflektancyjnego pola testowego jest proporcjonalny do stężenia jonu w roztworze.