Katedra Metrologii i Optoelektroniki - Jednostki Administracyjne - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Katedra Metrologii i Optoelektroniki

Filtry

wszystkich: 422

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Publikacji

Rok 2011
  • A compact smart resistive sensor based on a microcontroller
    Publikacja

    - Rok 2011

    Przedstawiono nowe rozwiązanie inteligentnego czujnika rezystancyjnego bazującego na mikrokontrolerze, w którym czujnik rezystancyjny jest elementem składowym filtra anty-aliazingowego przetwornika A/C. Procedura pomiaru temperatury obejmuje pobudzenie filtra dwoma impulsami prostokątnymi o zadanym czasie trwania oraz próbkowanie jego odpowiedzi czasowej. Następnie na podstawie wartości pomierzonych próbek napięcia wyznaczana jest...

  • Acoustic emission for detecting deterioration of capacitors under aging
    Publikacja

    W pracy przedstawiono wyniki pomiarów kondensatorów foliowych poddanych przyśpieszonemu procesowi starzenia na ramie trwałości. Stwierdzono, że w niektórych typach kondensatorów foliowych istnieje związek między intensywnością sygnału emisji akustycznej mierzonego w kondensatorach po ich wytworzeniu oraz rezystancji izolacji mierzonej po procesie ich starzenia.

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

Rok 2006
Rok 2005
Rok 2009
  • A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances
    Publikacja

    - MEASUREMENT - Rok 2009

    Przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w częściach analogowych z tolerancjami elementów nieuszkodzonych mieszanych sygnałowo elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda składa się z trzech etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń przez aproksymację rodziny pasów lokalizacyjnych. W etapie pomiarowym wewnętrzny licznik mikrokontrolera mierzy czasy trwania impulsów...

    Pełny tekst do pobrania w portalu

Rok 2010
Rok 2012
Rok 2004
  • A Model for Low Frequency Noise Generation in MOSFETs.
    Publikacja

    - Rok 2004

    Przedstawiono model generacji szumów małoczęstotliwosciowych tranzystora MOS. Model został użyty do symulacji szumów cienkotlenkowych tranzystorów MOS. Wyniki symulacji porównano z danymi pomiarowymi. Zaprezentowano sposób wykorzystania pomiarów szumów m.cz. do wyznaczania niektórych parametrów charakteryzujących tranzystory MOS.

Rok 2008
Rok 2018
Rok 2017
Rok 2015