Wyszukiwarka
Opis
Ag nanostructures were prepared on borosilicate glass (Corning 1737F) and Si substrates. In both cases, the substrates
were cleaned with acetylacetone and then rinsed in ethanol. Thin Ag films (2 and 6 nm thickness) were deposited using a tabletop dc magnetron sputtering coater (EM SCD 500, Leica) in pure Ar plasma (argon, Air Products 99.999%). The Ag target
was of 99.99% purity, the rate of layer deposition was about 0.4 nm·s−1 , and the incident power was in the range of 30–40 W. The layer thickness was measured in situ using a quartz crystal microbalance. To form nanostructures, the as-prepared films were put into a hot furnace and annealed in argon atmosphere at different temperatures for different periods of time. Nanostructures were measured by XPS method. Additionally a bulk silver was measured.
Plik z danymi badawczymi
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BYUznanie autorstwa
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2021
- Data zatwierdzenia:
- 2021-07-26
- Data wytworzenia:
- 2019
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/e712-9p20 otwiera się w nowej karcie
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 63 razy