The XRD diffraction patterns of reduced LSCNT prepared using two methods and two sintering temperatures - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

The XRD diffraction patterns of reduced LSCNT prepared using two methods and two sintering temperatures

Opis

The dataset includes XRD diffraction patterns of La0.27Sr0.54Ce0.09Ni0.1Ti0.9O3-s produced using two methods, namely organic (citrate assisted) and Pechini sintered at 1000 or 1200oC under air atmosphere and reduced at 900 for 12 h in wet H2.

Plik z danymi badawczymi

XRD_LSCNT_reduced.zip
25.4 kB, S3 ETag f54824550cc3b078c1b9a1b7e986bcba-1, pobrań: 14
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik XRD_LSCNT_reduced.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by-nc 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY-NC
Użycie niekomercyjne
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:
HighScore, XRD software

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2021
Data zatwierdzenia:
2021-06-09
Data wytworzenia:
2019
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • Inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/2gm0-f238 otwiera się w nowej karcie
Finansowanie:
Seria:
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Powiązane zasoby

Cytuj jako

wyświetlono 56 razy