Ultra-thin film of aluminum oxide influence on the plasmon resonance in gold nanostructures - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Ultra-thin film of aluminum oxide influence on the plasmon resonance in gold nanostructures

Opis

Ultra-thin film of aluminum oxide influence on the plasmon resonance in gold nanostructures was measured by UV-VIS spectroscopy. Ultra thin film of Al2O3 was deposited on a gold nanostructures. Thickness of film was 2nm - 8nm. Shift of plasmon resonance was observed, as a result of various dielectric constant of layer.

Plik z danymi badawczymi

absorpcja_różne_grubości_Al2O3.opj
198.6 kB, S3 ETag 039d7c820c38137a351bad9cfcb59bdf-1, pobrań: 4
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:
origin

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2021
Data zatwierdzenia:
2021-06-24
Data wytworzenia:
2017
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/jdtj-aa89 otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

wyświetlono 44 razy