Opis
Data contain results from X-ray diffraction (XRD) measurements of pristine Bi2O3 and Gd2O3 structures using Aeris diffractometer (Malvern Panalytical, Malvern, UK) with Cu-Kα radiation (λ = 1.544 Å)
Data consists:
BiGd-typeA - Bi2O3-Gd2O3 structures coated with silica (synthesis method A)
BiGd-typeB - Bi2O3-Gd2O3 structures coated with silica (synthesis method B)
To open the raw data HighScore software (external license) is required.
Plik z danymi badawczymi
XRD data.zip
115.9 kB,
S3 ETag
7702546888b3fb31de9403f5e3429992-1,
pobrań: 62
Hash pliku liczony jest ze wzoru
Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count}
gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcieCC BYUznanie autorstwa
- Dane surowe:
- Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
- Oprogramowanie:
- HighScore
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2024
- Data zatwierdzenia:
- 2024-02-12
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria chemiczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/zqda-as51 otwiera się w nowej karcie
- Finansowanie:
- Weryfikacja:
- Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie
Słowa kluczowe
Powiązane zasoby
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 126 razy