X-ray Diffraction (XRD) patterns of PC-X (porous carbon materials obtained at various temperatures) - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

X-ray Diffraction (XRD) patterns of PC-X (porous carbon materials obtained at various temperatures)

Opis

These data contain X-ray diffraction patterns (XRD) of PC-700 (porous carbon materials obtained at 700°C), PC-800 (porous carbon materials obtained at 800°C) and PC-900 (porous carbon materials obtained at 900°C). 

Plik z danymi badawczymi

XRD10-80.zip
155.4 kB, S3 ETag 862b9480cee9e39d0db9c19aaeb1702d-1, pobrań: 51
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik XRD10-80.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2024
Data zatwierdzenia:
2024-03-27
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/xnhm-c494 otwiera się w nowej karcie
Finansowanie:
Weryfikacja:
Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie

Słowa kluczowe

Powiązane zasoby

Cytuj jako

wyświetlono 101 razy