Wyniki wyszukiwania dla: POMIARY ELEMENTÓW RLC

• Miernik elementów RLC na bazie układu ''programmable system On a Chip''

  Publikacja

  • G. Lentka
  • M. Michalkiewicz

  - Przegląd Elektrotechniczny - Rok 2011

  W artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu ''programmable system On a Chip'' firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fouriera pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re...

• Pomiary interkonektów typu RLC na pakietach elektronicznych z wykorzystaniem magistrali mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2005

  Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto pierwszych komercyjnych układów scalonych STA400 wyposażonych w magistralę, opracowanych w firmie National Semoconductor i Logic Vision. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi...

• Low frequency noise measurements in advanced silocon devices.**2003, 136 s.116 rys. bibliogr. 29 poz. maszyn. Pomiary małoczęstotliwościowych szumów zaawansowanych elementów krzemowych. Rozprawa doktorska /15.04.2003./ Inst. Natl. P. Grenoble Promotorzy: prof. dr hab. inż. L. Spiralski, dr CNRS G. Ghibaudo.

  Publikacja

  • A. Szewczyk

  - Rok 2003

  W pracy przedstawiono automatyczny system do pomiarów małoczęstotliwoscio-wych szumów struktur elementów półprzewodnikowych. System umożliwia automa-tyczne wyznaczanie charakterystyk stałoprądowych badanego elementu, pomiarszumów i wyznaczanie gęstości widmowej mocy w zadanym zakresie polaryzacji.Przytoczono wyniki przeprowadzonych testów systemu. Ważną składową pracy wy-niki pomiarów szumów tranzystorów MOS i bipolarnych...

• Krzysztof Nyka dr hab. inż.

  Osoby

  Katedra Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej

  Krzysztof Nyka, absolwent Wydziału Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej (WETI PG), gdzie  uzyskał tytuł magistra inżyniera (1986, telekomunikacja) stopień doktora nauk technicznych (2002, elektronika) i doktora habilitowanego (2020 automatyka, elektronika i elektrotechnika). Obecnie jest zatrudniony na stanowisku profesora uczelni w Katedrze Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej WETI PG. Zainteresowania...

• Pomiary Automatyka Robotyka

  Czasopisma

  ISSN: 1427-9126

• Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne - Rok 2008

  Przedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...

• Ograniczenia wirtualnego miernika RLC zrealizowanego na układzie AD5933

  Publikacja

  • J. Hoja
  • M. Kiwilszo

  - Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej - Rok 2008

  W artykule przedstawiono wirtualny miernik elementów RLC, zrealizowany w oparciu o mikrosystem AD5933. Mikrosystem wyznacza parametry impedancyjne elementów mierzonych, wykorzystując CPS do obliczenia składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych. Przeprowadzone badania mikrosystemu, w konfiguracji zalecanej przez producenta, wykazały niekorzystny wpływ jego rezystancji wyjściowej na błąd pomiaru impedancji. Dlatego opracowano...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Optimization and improvement of the ARQ mechanism in RLC layer in UMTS.

  Publikacja

  • P. Matusz
  • J. Woźniak

  - Rok 2004

  Parametry wydajnościowe warstwy RLC systemu UMTS są silnie uzależnione od ich konfiguracji początkowej i dynamicznych zmian. Celem referatu była prezentacja efektywności pracy warstwy RLC, w trybie AM, ze szczególnym uwzględnieniem mechanizmu ARQ. Zaproponowano procedury optymalizacji ustawień parametrów RLC. Opisano też metody dalszej poprawy efektywności funkcjonowania RLC AM, poprzez zdefiniowanie i zaimplementowanie nowych...

• A method of measuring RLC components for microcontroller systems

  Publikacja

  • Z. Czaja

  - Przegląd Elektrotechniczny - Rok 2017

  A new method of measuring RLC components for microcontroller systems dedicated to compact smart impedance sensors based on a direct sensor-microcontroller interface is presented. In the method this direct interface composed of a reference resistor connected in series with the tested sensor impedance is stimulated by a square wave generated by the microcontroller, and then its voltage response is sampled by an internal ADC of the...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Marek Krzaczek dr hab. inż.

  Osoby

  Katedra Budownictwa i Inżynierii Materiałowej