Wyniki wyszukiwania dla: testowanie ukladow analogowych

• Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4.

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2004

  Przedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zorganizowano w oparciu o pierwsze komercyjne układy wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 - układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler...

• Detekcja uszkodzeń w analogowych układach w pełni różnicowych.

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Rok 2004

  Przedmiotem pracy jest detekcja uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych o architekturze w pełni różnicowej, cechującej się strukturalną redundancją ułatwiającą testowanie i diagnostykę. W oparciu o model matematyczny układów w pełni różnicowych, usystematyzowano metody ich testowania. Wykazano, że dotychczas stosowane metody są kosztowne w odniesieniu do układów ze wzmacniaczami operacyjnymi, w których zastosowano sprzężenie...

• Implementacja mikroserwerowa TCP/IP w systemie diagnostycznym bazującym na cyfrowej magistrali testujacej IEEE 1149.1

  Publikacja

  • K. Arentowicz
  • B. Bartosiński

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2006

  Przedstawiono mikrosystem pomiarowo-diagnostyczny sterowany przez Internet i pozwalający na zdalne testowanie układów analogowych. Do realizacji mikrosystemu wykorzystano kontroler ethernetu RTL8019AS, mikrokontroler PIC18F4620 oraz wyposażony w magistralę IEEE 1149.1 i przetwornik analogowo-cyfrowy układ scalony SCANSTA476. Aplikacja pozwala na przeprowadzanie zdalnego pomiaru napięcia w 8 wybieranych programowo punktach. Obszarem...

• Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Rok 2009

  Praca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...

• Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Przegląd Elektrotechniczny - Rok 2011

  W artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...

• System do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych

  Publikacja

  • A. Konczakowska

  - Rok 2005

  Przedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systmów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych, które mogą być stosowane do analizy szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Określono warunki pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Dokonano podziału systemów...

• Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne 2022/2023

  Kursy Online

  • Z. Czaja
  • G. Lentka
  • J. Smulko
  • A. Kwiatkowski
  • M. Kowalewski

  {mlang en} 1. Introduction/Guide for the use of the International System of Units2. Rules and style conventions for expressing values of quantities.3. The role of measurement uncertainty in conformity assessment. 4. Probabilistic model for measurement processes, estimation theory5. Analog-digital conversion methods6. Selected structures of classical analog-digital converters7. New techniques of analog-digital conversion: sigma-delta...

• Zaawansowane Metody Pomiarowe i Diagnostyczne 2023/2024

  Kursy Online

  • Z. Czaja
  • G. Lentka
  • J. Smulko
  • A. Kwiatkowski
  • M. Kowalewski

  {mlang en} 1. Introduction/Guide for the use of the International System of Units2. Rules and style conventions for expressing values of quantities.3. The role of measurement uncertainty in conformity assessment. 4. Probabilistic model for measurement processes, estimation theory5. Analog-digital conversion methods6. Selected structures of classical analog-digital converters7. New techniques of analog-digital conversion: sigma-delta...

• Metody projektowania ułatwiającego testowanie dla układów cyfrowych

  Publikacja

  • B. Bartosiński

  - Rok 2005

  Przedstawiono przegląd metod ułatwiających testowanie DFT (Design for Testability) dla układów cyfrowych. Zaprezentowano metody stosowane na poziomie układów scalonych, pakietów oraz systemów elektronicznych. Pokazano heurystyczne metody projektowania pozwalające na zwiększenie sterowalności i obserwowalności układów oraz metody strukturalne, a wśród nich układy BILBO (Built-In Logic Block Observer), BIST (Built-In Self Test),...

• Złote monety bulionowe – testowanie pasywnego charakteru inwestycji

  Publikacja

  • M. Potrykus

  - Finanse, Rynki Finansowe, Ubezpieczenia - Rok 2016

  Cel – Wyznaczenie składu optymalnego portfela inwestycyjnego o minimalnym ryzyku, zawierającego inwestycję w polskie monety bulionowe (Orzeł Bielik) oraz inwestycję na polskiej giełdzie papierów wartościowych. Testowanie pasywnego charakteru inwestycji w monety. Metodologia badania – Konstrukcja portfeli inwestycyjnych o minimalnym ryzyku według teorii H.M. Markowitza. Autorska metoda badania pasywnego charakteru inwestycji...

  Pełny tekst do pobrania w portalu