Wyniki wyszukiwania dla: Atomic Force Microscopy (AFM) - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: Atomic Force Microscopy (AFM)

Filtry

wszystkich: 201
wybranych: 1

wyczyść wszystkie filtry

Filtry wybranego katalogu

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Wyniki wyszukiwania dla: Atomic Force Microscopy (AFM)

  • Kazimierz Darowicki prof. dr hab. inż.

    Osoby

    Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej

               Studia wyższe ukończyłem w czerwcu 1981 roku po zdaniu egzaminu dyplomowego i obronie pracy magisterskiej. Opiekunem pracy magisterskiej był dr hab. inż. Tadeusz Szauer. W roku 1991, 27 listopada uzyskałem stopień naukowy broniąc pracę doktorską zatytułowaną „Symulacyjna i korelacyjna analiza widm immitancyjnych inhibitowanej reakcji elektrodowej”. Promotorem pracy był prof. dr hab. inż. Józef Kubicki (Wydział Chemiczny...