Wyniki wyszukiwania dla: SECONDARY ELECTRON YIELD
Filtry
wszystkich: 2183
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 1810 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 8 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 23 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 1 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 2 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 1 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 14 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 324 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: SECONDARY ELECTRON YIELD
-
Badanie procesów odpowiedzialnych za powstawanie nanostruktur w metodzie FEBID (focused electron beam induced deposition).
ProjektyProjekt realizowany w Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej zgodnie z porozumieniem 0189/DIA/2016/45 z dnia 2016-11-21