Wyniki wyszukiwania dla: ScanningElectron Microscope - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: ScanningElectron Microscope

Filtry

wszystkich: 1

wyczyść wszystkie filtry


Filtry wybranego katalogu

  • Kategoria

  • Rok

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Wyniki wyszukiwania dla: ScanningElectron Microscope

  • Reconstruction of thin films polyazomethine based on microscopic images

    Publikacja

    - Rok 2011

    Purpose: The aim of this paper was to investigate changes in surface morphology of thin films ofpolyazomethine PPI. Thin films were prepared using low-temperature chemical vapor deposition (CVD)method.Design/methodology/approach: The changes in surface topography was observed by the atomicforce microscope AFM and scanning electron microscope SEM. The results of roughness have beenprepared in the software WSxM NanoTec Spanish...