Wyszukiwarka
Wyniki wyszukiwania dla: MM-WAVE ELECTRONICS
Filtry
wszystkich: 4161
wybranych: 2
-
Katalog
- Publikacje 1797 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 81 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 2 wyników po odfiltrowaniu
- Wydawnictwa 1 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 358 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 1 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 10 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 3 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 2 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 51 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 3 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 1852 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: MM-WAVE ELECTRONICS
-
Sonda dynamiczna średnia SD-30 (DPM)
Aparatura BadawczaGeotechniczne badania polowe
-
Stanowisko do badania łożysk ślizgowych smarowanych wodą
Aparatura BadawczaStanowisko umożliwia prowadzenie badań łożysk ślizgowych smarowanych głównie cieczami o niskiej lepkości o średnicy czopa do 120 mm. Rejestrować można: opory ruchu, trajektorie osi czopa, rozkład ciśnienia w filmie smarnym.