Wyszukiwarka
Wyniki wyszukiwania dla: olow (ii)
Wyświetlane wyniki pochodzą z wyszukiwania alternatywnego.
Filtry
wszystkich: 12290
wybranych: 2
-
Katalog
- Publikacje 5871 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 40 wyników po odfiltrowaniu
- Wydawnictwa 5 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 471 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 19 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 4 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 2 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 2777 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 90 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 3011 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: olow (ii)
-
Platforma edukacyjno-badawcza NI Elvis II
Aparatura BadawczaPoznanie budowy, zasad działania podstawowych układów elektronicznych, cyfrowych układów logiki programowalnej, mikrokontrolerów jednoukładowych oraz procesorów sygnałowych.
-
Low temperature cracking equipment: Termal Stress Restrained Specimen Test (TSRST); Uniaxial Tensile Strength Test (UTST); Tensile Creep Test (TCT); Relaxation Test (RT);
Aparatura Badawcza