Wyszukiwarka
Wyniki wyszukiwania dla: ANGULAR DISPLACEMENT SENSOR, ASYMMETRIC DEVICES, DIRECTIONAL ROTATION, ELECTRICALLY SMALL RESONATORS, MICROWAVE MEASUREMENT TECHNIQUE, MICROWAVE SENSORS, ROTATION SENSOR
Filtry
wszystkich: 9885
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 6910 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 126 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 20 wyników po odfiltrowaniu
- Wydawnictwa 1 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 116 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 9 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 96 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 3 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 2603 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: ANGULAR DISPLACEMENT SENSOR, ASYMMETRIC DEVICES, DIRECTIONAL ROTATION, ELECTRICALLY SMALL RESONATORS, MICROWAVE MEASUREMENT TECHNIQUE, MICROWAVE SENSORS, ROTATION SENSOR
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR