Wyniki wyszukiwania dla: BENDING-TORSION FATIGUE SURFACE TOPOGRAPHY ROUGHNESS NON-MEASURED POINTS OUTLIERS HIGH-FREQUENCY NOISE MEASUREMENT ERRORS FOCUS VARIATION MICROSCOPY
Filtry
wszystkich: 17469
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 12907 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 178 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 34 wyników po odfiltrowaniu
- Wydawnictwa 1 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 201 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 9 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 1 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 106 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 12 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 4019 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: BENDING-TORSION FATIGUE SURFACE TOPOGRAPHY ROUGHNESS NON-MEASURED POINTS OUTLIERS HIGH-FREQUENCY NOISE MEASUREMENT ERRORS FOCUS VARIATION MICROSCOPY
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR