Wyniki wyszukiwania dla: INSTRUMENTATION AND CONTROL SYSTEMS
Filtry
wszystkich: 8634
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 6047 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 596 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 259 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 420 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 1 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 24 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 3 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 266 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 7 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 1010 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: INSTRUMENTATION AND CONTROL SYSTEMS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR