Wyszukiwarka
Wyniki wyszukiwania dla: MEASUREMENT SYSTEMS
Filtry
wszystkich: 1282
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 1089 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 38 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 7 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 18 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 1 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 12 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 116 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: MEASUREMENT SYSTEMS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR