Wyniki wyszukiwania dla: MICROWAVE SENSORS, MICROWAVE MEASUREMENT, POST-FABRICATION TUNING, ADDITIVE MANUFACTURING, EXPERIMENTAL VALIDATION
Filtry
wszystkich: 8709
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 6845 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 329 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 15 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 208 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 6 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 1 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 80 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 4 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 1220 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: MICROWAVE SENSORS, MICROWAVE MEASUREMENT, POST-FABRICATION TUNING, ADDITIVE MANUFACTURING, EXPERIMENTAL VALIDATION
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR