Wyszukiwarka
Wyniki wyszukiwania dla: SECOND-ORDER SYSTEMS.
Filtry
wszystkich: 10093
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 7420 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 490 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 246 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 341 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 1 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 22 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 2 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 274 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 8 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 1288 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: SECOND-ORDER SYSTEMS.
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR