Wyszukiwarka
Wyniki wyszukiwania dla: SURFACE TOPOGRAPHY ROUGHNESS MEASUREMENT NOISE CERAMICS COMPOSITES SURFACE MACHINING HONING MILLING GRINDING
Filtry
wszystkich: 7773
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 5630 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 122 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 7 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 74 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 3 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 1 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 40 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 3 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 1893 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: SURFACE TOPOGRAPHY ROUGHNESS MEASUREMENT NOISE CERAMICS COMPOSITES SURFACE MACHINING HONING MILLING GRINDING
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Zespoły Badawcze* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR