Wyniki wyszukiwania dla: SURFACE TOPOGRAPHY SURFACE TEXTURE ROUGHNESS MEASUREMENT NOISE TEXTURE DIRECTION LASER TEXTURING CROSS-HATCH TEXTURE - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: SURFACE TOPOGRAPHY SURFACE TEXTURE ROUGHNESS MEASUREMENT NOISE TEXTURE DIRECTION LASER TEXTURING CROSS-HATCH TEXTURE

Wyniki wyszukiwania dla: SURFACE TOPOGRAPHY SURFACE TEXTURE ROUGHNESS MEASUREMENT NOISE TEXTURE DIRECTION LASER TEXTURING CROSS-HATCH TEXTURE

  • Zespół Metrologii i Optoelektroniki

    Zespoły Badawcze

    * komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR