Wyniki wyszukiwania dla: metoda charakterystyk

• Active-Error Feedforward Technique for Linearization of CMOS Transconductance Amplifier

  Publikacja

  • S. Szczepański
  • S. Kozieł

  - Rok 2005

  W pracy przedstawiono koncepcję układową operacyjnego wzmacniacza transkonduktancyjnego CMOS o zwiększonej liniowości charakterystyk przejściowych. Proponowana struktura wzmacniacza transkonduktancyjnego opiera się na wykorzystaniu prostych transkonduktorów realizowanych za pomocą par różnicowych. Linearyzacja charakterystyki przejściowej układu następuje dzięki zastosowaniu w ścieżce "feedforward" wzmacniacza błędu. Wzmacniacz...

• Sczepność warstw asfaltowych w wielowarstwowych układach nawierzchni drogowych

  Publikacja

  • P. Jaskuła

  - Rok 2018

  Sczepność warstw asfaltowych w konstrukcji nawierzchni drogowej ma kluczowe znaczenie dla zachowania się nawierzchni pod obciążeniem od pojazdów samochodowych. W tym celu przeprowadzono badania sczepności międzywarstwowej w schemacie Leutnera przy obciążeniu monotonicznym dla określenia maksymalnej siły ścinającej, przemieszczenia ścinającego, wytrzymałości ścinania, sztywności ścinania, energii ścinania. Dla wybranych przypadków...

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Mirosław Kazimierz Gerigk dr hab. inż.

  Osoby

  Instytut Mechaniki i Konstrukcji Maszyn

• Marcin Potrykus dr inż.

  Osoby

  Katedra Finansów

  Absolwent Wydziału Zarządzania i Ekonomii Politechniki Gdańskiej. Od 2008 zatrudniony jako Asystent w Katedrze Finansów na Wydziale Zarządzania i Ekonomii Politechniki Gdańskiej. W 2015 roku obronił (w dyscyplinie ekonomia) rozprawę doktorską zatytułowaną „Inwestycje alternatywne – opłacalność a ryzyko”. Od 2016 zatrudniony jako adiunkt w Katedrze Analizy Ekonomicznej i Finansów na Politechnice Gdańskiej. Jego zainteresowania naukowe...

• Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych

  Publikacja

  • W. Toczek

  - Rok 2009

  Praca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...