Wyniki wyszukiwania dla: ANIHILACJA POZYTONÓW

• Positron Annihilation Studies of Silicon Oxides and Oxygen Precipitates in Silicon

  Publikacja

  • W. Deng
  • B. Kusz
  • D. Pliszka
  • K. Trzebiatowski
  • M. Gazda
  • R. S. Brusa
  • G. P. Karwasz
  • A. Zecca

  - Molecular Physics Reports - Rok 2002

  Techniki pozytonowe dają możliwości badania defektów i zmian strukturalnych nie obserwowanych innymi metodami. W tej pracy zastosowano 3 różne techniki pozytonowe do badania zmian strukturalnych i tworzenia wydzieleń SiOx w krzemie.

• Structural studies of titanium oxide multilayers

  Publikacja

  • G. P. Karwasz
  • A. Miotello
  • E. Zomer
  • R. S. Brusa
  • B. Kościelska
  • C. Armellini
  • A. Kuzmin

  - Rok 2005

  W pracy przedstawiono wyniki badań cienkich warstw TiO2 przy wykorzystaniu dyfrakcji rentgenowskiej i anihilacji pozytonów. Warstwy były wytwarzane różnymi metodami. Badania pozwalają na określenie optymalnych, z punktu widzenia późniejszych zastosowań, parametrów warstw.